展覽地點
亞洲/ 日本/ 東京
日本國際IC封裝及測試專業展覽會 (IC & Sensor Packaging Expo) 是日本國際電子製造關連展 (NEPCON Japan) 系列展,是日本領先的IC(積體電路)封裝、先進測試與感測器技術專業展覽會,聚焦於半導體封裝技術、晶圓級封裝(WLP)、系統級封裝(SiP)、MEMS(微機電系統)、高效能感測器、測試與分析技術,全面展示最新技術與解決方案,推動電子產業技術創新與供應鏈優化。
展會吸引來自全球的半導體製造商、封裝與測試設備供應商、感測器技術公司、電子元件製造企業、車用電子、醫療設備與物聯網(IoT)解決方案供應商,提供技術展示、產業趨勢論壇與商務對接機會,助力企業掌握半導體產業的最新動向,提升產品品質與生產效率。
3D IC 封裝技術,透過堆疊式設計提升晶片效能,減少體積並優化熱管理。
系統級封裝(SiP)與晶圓級封裝(WLP),加速應用於手機、車用電子、IoT 設備等高集成度產品。
MEMS(微機電系統)感測器,廣泛應用於醫療設備、工業自動化、汽車電子與消費電子產品中。
環境感測器、圖像感測器、壓力感測器與生物感測器,支援智慧家庭、穿戴裝置與智能交通應用。
先進測試設備(ATE)、光學檢測技術、X-ray 分析與 AI 驅動的自動化測試系統,確保 IC 與感測器產品的高品質與可靠性。
晶圓測試、封裝後測試(Final Test)、失效分析(FA)技術,提升製造流程效率並降低成本。
AI 與機器學習技術應用於封裝測試過程中,通過數據分析優化生產工藝,提升良率。
自動化設備與機器視覺技術,幫助企業實現高精度的封裝、測試與組裝流程。
低功耗 IC 封裝技術、無鉛焊接工藝與可回收電子材料,降低電子產品對環境的影響。
節能生產設備與綠色製造解決方案,推動電子產業的可持續發展。
日期 |
2026 年 1 月 21 日至 23 日 |
地點 |
日本東京有明國際展示場(Tokyo Big Sight) |