展覽地點
亞洲/ 日本/ 東京
日本國際電子量測檢修設備展 (ELECTROTEST JAPAN) 是日本國際電子製造關連展(NEPCON JAPAN)子展之一,是日本最大、最具專業性的電子量測與檢修設備展覽會,專注於電子測試技術、量測設備、電路板測試(PCB Testing)、失效分析(FA)、自動化測試系統(ATE)與智慧製造解決方案,為全球電子製造企業提供最先進的測試技術和產品,助力企業實現高品質與高效能的生產目標。
展會吸引來自全球的電子元件製造商、測試設備供應商、電路板(PCB)製造商、半導體企業、汽車電子、通訊設備與醫療電子產品公司,通過技術展示、專業論壇與商務對接活動,推動電子製造業的技術創新與品質提升,促進電子產品供應鏈的安全與可靠性。
自動化測試設備(ATE)、功能測試系統(FCT)、在線測試(ICT)技術,提升電子產品測試效率與精準度。
高頻測試、5G 通訊設備測試、射頻(RF)測試技術,應用於通訊、車聯網與 IoT 設備中。
光學檢測(AOI)、X-ray 檢測、三坐標測量機(CMM),實現高精度的電子元件與電路板檢測。
AI 驅動的自動化檢測系統,快速識別產品缺陷並提供數據分析,提升製造過程的品質控制能力。
PCB 測試解決方案,包括短路測試、功能測試、電氣參數測試,保障電路板品質穩定性。
半導體測試設備(ATE)、晶圓測試(Wafer Test)、封裝測試(Final Test)技術,支援先進 IC 製造流程。
汽車電子測試系統,支援 ADAS、自動駕駛控制系統、車載娛樂系統的高效測試與認證。
醫療設備測試技術,確保醫療電子產品在安全性、可靠性與符合國際標準方面達到最高要求。
AI 與機器學習技術應用於測試流程中,優化生產線上的質量控制與數據管理。
低功耗測試設備、環保材料應用與智慧工廠數字化解決方案,推動電子製造業的可持續發展。
日期 |
2026 年 1 月 21 日至 23 日 |
地點 |
日本東京有明國際展示場(Tokyo Big Sight) |